Digitales Rasterelektronenmikroskop (DSM 640A, Carl Zeiss Oberkochen)
mit
EDX-Analysensystem (Link ISIS, Oxford Instruments GmbH)
- Mikrobereichsanalytik im µm-Bereich
- Bestimmung der Zusammensetzung von Rückständen,
Ablagerungen, Stäuben und Partikeln
- Identifizierung von Werkstoffen
- Bruchflächenanalyse (Fraktographie)
- Dokumentation der Oberflächentopographie
- Faseranalytik (Asbest, künstliche Mineralfasern -
KMF)
