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GSI – Gesellschaft für Schweißtechnik international mbH
Niederlassung SLV Berlin-Brandenburg
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Rasterelektronenmikroskopie

Mit dem Rasterelektronenmikroskop (REM) werden fraktographische Untersuchungen an Brüchen oder im Labor geöffnete Rissflächen im Rahmen von Schadensfällen durchgeführt. 

Diese Untersuchungen sind zur Aufklärung der Schadensfälle unerlässlich. Durch die hohe Tiefenschärfe des Rasterelektronenmikroskops lassen sich sowohl unterschiedliche Bruchstrukturen, Bruchausgänge, Bruch- und Rissausbreitungsrichtungen ebenso darstellen, wie sich im Material gebildete Fremdphasen, Ausscheidungen und Korrosionsbeläge auf den Bruchflächen.

Die chemische Zusammensetzung dieser Phasen, Ausscheidungen und Beläge auf den Bruchflächen, können mit der in das Rasterelektronemikroskop integrierten, energiedispersiven Röntgenanalyse (EDX) qualitativ und quantitativ bestimmt werden. Hierfür können je nach Fragestellung Flächen- und/oder Punkt- sowie Linienanalysen (sogenannte Linescans) durchgeführt werden. Die Darstellung in Form von Element-Verteilungsbildern sogenannten Mappings ist ebenfalls möglich.

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